X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀
簡要描述：
Werth將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標測量系統(tǒng)，WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀可實現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量，同時可實現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。
產(chǎn)品時間：2020-06-30
WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀介紹：
德國Werth公司是將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標測量系統(tǒng)，實現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量，同時可實現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質(zhì)的要求。Werth工業(yè)CT斷層掃描測量儀此機榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計金獎。
WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀特點：
◆ 將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標測量系統(tǒng)，實現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量
◆ 可選配第二個Z軸，配置其他傳感器（光學、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù)，進一步保證 CT測量數(shù)據(jù)更準確
◆ 堅固的花崗巖基座，保證機器具有高穩(wěn)定性
◆ 高精密機械軸承技術(shù)及線性導軌系統(tǒng)，確保實現(xiàn)zui 高精度的測量
◆ 無論從設(shè)計還是結(jié)構(gòu)，測量機*并超出X射線使用安全標準
◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù)，測量速度更快
◆ Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨立校準系統(tǒng)
◆ Werth公司技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù)：
精密測量微小部件
掃描更大尺寸工件，提高分辨率
擴展測量范圍
◆ 測量軟件可快速3D重構(gòu)，也可進行2D測量
◆ 測量工件內(nèi)部尺寸的同時，也可實現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析
◆ 選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認證) ，界面友好，操作簡單
◆ 可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
◆ 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測量，*評估，逆向工程，質(zhì)量控制等
Werth工業(yè)CT斷層掃描測量儀應(yīng)用領(lǐng)域: 模具行業(yè)、逆向工程、汽車行業(yè)、航空航天、精密機械加工、船舶等。
WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀技術(shù)參數(shù)：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大測量工件尺寸(直徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大允許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線源 | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可選) |
| X射線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據(jù)標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學傳感器選用同等及更高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
